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curriculum/challenges/chinese/10-coding-interview-prep/project-euler/problem-307-chip-defects.md

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+challengeType: 5
+title: 'Problem 307: Chip Defects'
+videoUrl: ''
+localeTitle: 问题307：芯片缺陷
+---
+
+## Description
+<section id="description">
+k个缺陷随机分布在一家工厂生产的n个集成电路芯片中（在芯片上可以发现任何数量的缺陷，每个缺陷与其他缺陷无关）。
+
+
+令p（k，n）表示存在至少3个缺陷的芯片的概率。
+例如p（3.7）≈0.0204081633。
+
+
+找到p（20,000，1 000 000）并以0.abcdefghij的形式将答案四舍五入到小数点后10位。
+</section>
+
+## Instructions
+<section id="instructions">
+</section>
+
+## Tests
+<section id='tests'>
+
+```yml
+tests:
+  - text: <code>euler307()</code>应该返回0.7311720251。
+    testString: assert.strictEqual(euler307(), 0.7311720251);
+
+```
+
+</section>
+
+## Challenge Seed
+<section id='challengeSeed'>
+
+<div id='js-seed'>
+
+```js
+function euler307() {
+  // Good luck!
+  return true;
+}
+
+euler307();
+
+```
+
+</div>
+
+
+
+</section>
+
+## Solution
+<section id='solution'>
+
+```js
+// solution required
+```
+
+/section>